六氟化硫氣體設(shè)備密封試驗是通過檢測SF6氣體的泄漏量，來判定氣室的年漏氣率是否合格，控制標準是每一獨立氣室的年漏氣率不大于0.5％；《電氣設(shè)備交接試驗標準》條文說明中提出兩種試驗方法和控制標準：

1、采用靈敏度不低于l×10-6（體積比）的檢漏儀對氣室密封部分、管道接頭等處進行檢測時SF6檢漏儀未發(fā)生報警認為合格。

2、采用局部包扎法，待24h后檢測每個包扎腔內(nèi) SF6含量不大于30 ppm（體積比）即為合格。

目前采用第二種試驗方法較為準確，其實施程序是：抽真空檢驗→SF6氣體→泄漏檢驗。具體過程為：在GIS經(jīng)真空檢漏并靜止SF6氣體5小時后，用塑料薄膜在法蘭接口等處包扎，再過24h后進行檢測，如果有一處薄膜內(nèi)SF6氣體的濃度大于30 ppm，則該氣室漏氣率不合格。如果所有包扎薄膜內(nèi)SF6氣體的濃度均小于30ppm，則認為該氣室漏氣率合格。

 

GIS設(shè)備SF6氣體漏氣原因

SF6氣體絕緣開關(guān)設(shè)備（GIS）與常規(guī)電氣設(shè)備相比具有空間體積小、運行可靠性高、故障率小、維護費用低、元件封閉不受外界環(huán)境干擾且檢修周期長等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于電力系統(tǒng)的各種電氣設(shè)備，其絕緣介質(zhì)采用滅弧性能好、絕緣強度高、化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定的SF6氣體。從長期的運行情況來看，及時采取了各種密封工藝和檢漏措施，但由于GIS是整體拼裝組合設(shè)備，連接處很容易密封不嚴，因此SF6氣體泄漏仍是GIS全壽命周期中最常見的一種缺陷，約占GIS設(shè)備缺陷的40%左右。

GIS設(shè)備漏氣一般發(fā)生在法蘭連接處、焊縫、氣體密度繼電器結(jié)合面、閥門、管道及密封圈密封的密封面處，常見的泄漏原因主要有：

01. 設(shè)備制造原因

GIS設(shè)備有時會因制造質(zhì)量欠佳而出現(xiàn)SF6氣體泄漏缺陷。加工工藝不精造成的法蘭面不平整會影響GIS設(shè)備的密封性；鑄造工藝不良會使外殼存在砂眼，焊接工藝不良會出現(xiàn)焊縫裂紋，砂眼和焊縫是GIS設(shè)備漏氣的常見誘因，這種缺陷如果在安裝過程中未能被及時發(fā)現(xiàn)，那么在運行中將很難被發(fā)現(xiàn)。

02. 設(shè)備安裝原因

GIS設(shè)備在安裝過程中裝配質(zhì)量不高，如不遵守作業(yè)指導(dǎo)書要求、未選取指定的安裝零件、不遵循規(guī)定的安裝流程等均易導(dǎo)致SF6氣體泄漏。此外，安裝現(xiàn)場的環(huán)境清潔度對安裝效果也有影響，如環(huán)境濕度過大會使絕緣元件受潮，進而造成不良影響。安裝操作不當，劃傷元件表面，或?qū)Ψㄌm進行緊固時端面施力不對稱，也會造成SF6氣體泄漏。在安裝盆式絕緣子時，施力過大、裝配不當會使絕緣子產(chǎn)生裂紋，造成SF6氣體泄漏。因此，裝配時需嚴格按照作業(yè)指導(dǎo)書施工工藝執(zhí)行，保證安裝環(huán)境及安裝手法符合要求，檢測所有法蘭面平整度滿足要求，保證零件安裝、緊固到位，并且避免碰撞元件。

03. 密封件質(zhì)量原因

密封件質(zhì)量問題是導(dǎo)致GIS設(shè)備出現(xiàn)漏氣的一個常見因素，安裝過程中密封件緊固不當、密封圈裝入密封槽的位置不當或使用了有缺陷的密封圈都會造成密封不嚴而漏氣。同時，隨著密封圈的老化變形，密封性能也會逐漸降低。此類缺陷旺旺難以發(fā)現(xiàn)，但易造成嚴重缺陷，因此需要特別關(guān)注，尤其是操作次數(shù)較多的開關(guān)，其密封圈老化速度相對較快，GIS設(shè)備進行日常檢修時應(yīng)仔細檢查各處的密封件。